Nikons XT V system består av världsledande röntgen och CT inspektion för elektronik (PCB, BGA och chip design) och andra komponenter för ett brett spektrum av användningsområden.
Nikons XT V system består av världsledande röntgen och CT inspektion för elektronik (PCB, BGA och chip design) och andra komponenter för ett brett spektrum av användningsområden.
XT V 130 är ett väldigt flexibelt och kostnadseffektivt inspektionssystem för elektronik och halvledare. Systemet har en 130 kV / 10 watt elektronkälla tillverkad av Nikon Metrology, en öppen rörkonstruktion med integrerad generator och en högupplöst bild.
Produkten är utbyggbar genom uppgraderingar hos användare eller i fabrik och slutanvändaren konfigurera system för sina behov med bl.a. en högre strömkälla, ett roterande provfack, automatisk inspektionsprogramvara, ett alternativ för digital plattpanel och möjligheten att lägga till framtidssäker CT-teknik.
30-130 kv mikrofokuskälla med 2μm funktionsigenkänning
Stor mätyta på 520×520 mm
Intuitiv kontroll med joystick visar röntgenbilder i realtid
Dubbel display för kombinerad mätning och realtidsanalys
CT och X.Tract (laminografi) redo
Kontakta produktspecialist:
Johan Sternemalm
johan.sternemalm@bergmanlabora.se
Tel: 031-10 54 40
Teknisk specifikation
Typ: Öppen tub med mikrofokus Val av mål: Reflektionsmål Max energi: 130 kV Minsta upplösning: 3 um Max vikt av prov: 5 kg Geometrisk förstoring: 2,5-2400x System förstoring: upp till 36 000x CT /X.tract: Tillval Primära applikationer: realtids elektronikinspektion Längt kabinett: 1786 mm Bredd kabinett: 1200 mm Höjd kabinett: 1916 mm Systemvikt: 1935 kg
XT V 130 är ett väldigt flexibelt och kostnadseffektivt inspektionssystem för elektronik och halvledare. Systemet har en 130 kV / 10 watt elektronkälla tillverkad av Nikon Metrology, en öppen rörkonstruktion med integrerad generator och en högupplöst bild.
Produkten är utbyggbar genom uppgraderingar hos användare eller i fabrik och slutanvändaren konfigurera system för sina behov med bl.a. en högre strömkälla, ett roterande provfack, automatisk inspektionsprogramvara, ett alternativ för digital plattpanel och möjligheten att lägga till framtidssäker CT-teknik.
30-130 kv mikrofokuskälla med 2μm funktionsigenkänning
Stor mätyta på 520×520 mm
Intuitiv kontroll med joystick visar röntgenbilder i realtid
Dubbel display för kombinerad mätning och realtidsanalys
CT och X.Tract (laminografi) redo
Kontakta produktspecialist:
Johan Sternemalm
johan.sternemalm@bergmanlabora.se
Tel: 031-10 54 40
Teknisk specifikation
Typ: Öppen tub med mikrofokus Val av mål: Reflektionsmål Max energi: 130 kV Minsta upplösning: 3 um Max vikt av prov: 5 kg Geometrisk förstoring: 2,5-2400x System förstoring: upp till 36 000x CT /X.tract: Tillval Primära applikationer: realtids elektronikinspektion Längt kabinett: 1786 mm Bredd kabinett: 1200 mm Höjd kabinett: 1916 mm Systemvikt: 1935 kg
